上海星纳电子科技有限公司---无接触式高精度半导体测量设备

产品介绍
	手动设备 MS103V MS203V MS303V V系列 IPS100V 半/全自动设备 WIS300 AMS503 多功能全自动分选 SS603IC SS603SOLAR 标准样片厚度电阻率


定制方案

良率管理
	Synview

V100系列

检测功能
	V100 - 电学型号 (Type)
	V200 - 厚度 (Thickness) 总厚度变化 (TTV)
	V300 - 体电阻率 (Resistivity)

特点
	高精确度和重复性
	高性价比
	便捷的操作
	友好的人机界面

特点
	适用于76毫米到200毫米的晶片
	无接触测量
	实时显示测量数据
	紧凑性设计，安装方便
	测量数据导出

应用
	在线检验
	最终检测
	抽检